Incircuittest

Zerstörungsfrei testen

Der Incircuittest ist eine Testmethode zur Prüfung von analog-digital bestückten elektronischen Flachbaugruppen, um Fertigungsfehler und Bauteildefekte zu erkennen. Der Begriff MDA (Manufacturing Defect Analyser) ist in den frühen 80er Jahren entstanden und im Endeffekt absolut identisch mit dem Begriff Incircuittester. Der MDA hat die Prüfaufgaben von digitalen ICs mehr als perfekt übernommen, indem er die Eingangs- und Ausgangsschutzdioden prüft und damit Kurzschlüsse nach VCC oder Masse erkennt oder den Bruch von Bondingdrähten. Mit dieser Testmethode kann auch festgestellt werden, ob das IC verdreht oder ein falscher Typ eingebaut wurde. Somit reicht die Testmethode aus für die digitale Testung. Ein großer Teil der heute üblichen Incircuittester arbeitet mit Prüfspannungen bis ein Volt. Reinhardt hat sich auf eine maximale Prüfspannung von 200 Millivolt festgelegt, um Zerstörungen während des Incircuittests nahezu auszuschließen. Die Schaltgeschwindigkeiten haben sich heute bereits auf 100 Millisekunden oder schneller verbessert, sodass hier zeitgerecht und schnell getestet werden kann. Das angebotene MDA hat die Möglichkeit geschaffen, Guarding, Debugging und das Erlernen des zu messenden Bauteils – egal welcher Natur bei typisch 200 Bauteilen – innerhalb von fünf Minuten zu ermöglichen, sodass Programmierzeiten von einem oder mehreren Tagen nicht mehr notwendig sind. bw

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