Doppelt empfindlich

An die Solarmodul-Qualitätskontrolle werden hohe Ansprüche hinsichtlich einer effizienten, schnellen und automatisierten optischen Inspektion gestellt. Die neuen CMOS Kameras HXC20NIR und HXC40NIR von Baumer erreichen eine hohe Empfindlichkeit im nahen Infrarotbereich (NIR). Im Vergleich zu den bisher verfügbaren monochromen Kameras weisen die neuen Modelle bei einer Wellenlänge von 900 Nanometer eine doppelt so hohe Empfindlichkeit auf und sind damit noch besser auf die Anforderungen der Inspektion von Solarwafern ausgerichtet. Die Sensitivität von Kameras mit CCD Sensoren, die für NIR optimiert sind, wird dabei noch übertroffen. Mit diesen Neuentwicklungen kommt Baumer der Anforderung der Industrie nach einer Reduktion der Messzeiten zur Erhöhung des Durchsatzes nach. Mit einer Auflösung von vier Megapixel bei einem Bildseitenverhältnis von eins zu eins (2.048 mal 2.048) ist die HXC40NIR für die Inspektion quadratischer Solarwafer optimal geeignet. Zur Absicherung der gewünschten Produktqualität wird die Kristallstruktur im Elektrolumineszenz-Verfahren auf Defekte untersucht. Durch die hohe Auflösung können komplette Module mit weniger Kameras geprüft und damit eine einfachere und kostengünstigere Inspektion realisiert werden. bw